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基于加速性能退化试验的IGBT故障预测前端设计
引用本文:郑积斐,李璠,曾照洋,杜熠.基于加速性能退化试验的IGBT故障预测前端设计[J].测控技术,2012,31(11):97-99.
作者姓名:郑积斐  李璠  曾照洋  杜熠
作者单位:中国航空综合技术研究所 质量工程中心;中国航空综合技术研究所 质量工程中心;中国航空综合技术研究所 质量工程中心;中国航空综合技术研究所 质量工程中心
基金项目:科技部国际交流与合作重大专项(2011 k2002)
摘    要:故障预测与健康管理(PHM)技术能够实现故障监测、诊断、预测、状态评估及综合决策的功能,能够降低飞行器维修、使用和保障费用,提高飞行器战备完好率、任务成功率以及安全性和可用性。针对航空电子单元故障预测具体实现这一问题,选择航空飞行器中常用的IGBT作为试验对象,采用加速性能退化技术,基于PXI的测控平台,研究IGBT故障预测试验加速性能退化试验技术,分析性能退化曲线,为IGBT加速寿命试验的实现奠定基础。

关 键 词:加速性能退化  故障预测  LabVIEW

Design of IGBT Fault Prognosis Based on Accelerated Performance Degradation Experiment
ZHENG Ji-fei,LI Fan,ZENG Zhao-yang,DU Yi.Design of IGBT Fault Prognosis Based on Accelerated Performance Degradation Experiment[J].Measurement & Control Technology,2012,31(11):97-99.
Authors:ZHENG Ji-fei  LI Fan  ZENG Zhao-yang  DU Yi
Affiliation:(China Aero-Ploytechnology Establishment,Beijing 100028,China)
Abstract:
Keywords:accelerated performance degradation  fault prediction  LabVIEW
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