| SPRITE探测器截止波长与HgCdTe材料组份的关系 |
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| 引用本文： | 蔡毅,程开芳,冯文清. SPRITE探测器截止波长与HgCdTe材料组份的关系[J]. 红外与激光工程, 1999, 28(2): 40-43 |
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| 作者姓名： | 蔡毅 程开芳 冯文清 |
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| 作者单位： | 昆明物理研究所,昆明,650223 |
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| 摘 要： | 根据探测器截止波长的变化，讨论和确定了ＨｇＣｄＴｅ材料组份的实际偏差量。从ＳＰＲＩＴＥ探测器截止波长的测量结果计算，对用布里奇曼、Ｔｅ溶剂和固态再结晶等三种体晶技术生长的长波ＨｇＣｄＴｅ材料，在１ｍｍ２的面积上，材料组份的偏差量均能优于±０．００１５ｍｏｌｅ，在１ｃｍ２的面积上，统计平均的组份偏差相应要增大约一个数量级。
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| 关 键 词： | SPRITE探测器 截止波长 碲镉汞 组份 |
Relationship between the cut-off wavelength of SPRITE detector and composition of HgCdTe material |
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| Cai Yi,Cheng Kaifang,Feng Wenqing. Relationship between the cut-off wavelength of SPRITE detector and composition of HgCdTe material[J]. Infrared and Laser Engineering, 1999, 28(2): 40-43 |
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| Authors: | Cai Yi Cheng Kaifang Feng Wenqing |
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| Keywords: | SPRITE detector Cut off wavelength HgCdTe Composition |
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