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| MgSe薄膜的相结构研究 | |
| 引用本文： | 廖清华,彭学新,熊传兵,刘念华,范广涵,江风益.MgSe薄膜的相结构研究[J].半导体学报,1998,19(11):824-828. |
| 作者姓名： | 廖清华 彭学新 熊传兵 刘念华 范广涵 江风益 |
| 作者单位： | 南昌大学材料科学研究所 |
| 摘 要： | 我们采用ＭＯＣＶＤ外延技术首次在ＧａＡｓ（１００）和（１１１）衬底上成功地生长了ＭｇＳｅ单层薄膜．利用Ｘ射线衍射技术观察到了它的ＮａＣｌ结构、纤锌矿结构和闪锌矿结构三种相结构，并首次实验测量出了闪锌矿结构ＭｇＳｅ的晶格常数 |
| 关 键 词： | 硒化镁 相结构 半导体薄膜技术 |
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