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应用于∑Δ ADC的带隙基准源的设计
引用本文:叶英,曾健平,马勋,朱军.应用于∑Δ ADC的带隙基准源的设计[J].半导体技术,2007,32(10):882-885.
作者姓名:叶英  曾健平  马勋  朱军
作者单位:湖南大学物理与微电子科学学院微电子研究所 长沙410082(叶英,曾健平),中国科学院嘉兴中心电子设计与应用分中心 浙江嘉兴314000(马勋),四川大学物理科学与技术学院 成都610065(朱军)
摘    要:基于标准n阱0.6μm CMOS工艺条件,设计了一种用于高阶∑ΔADC的基准源结构。该电路在传统带隙基准电路的基础上,采用三个纵向晶体管串联的形式减小运放输入失调电压对基准电压的影响同时采用高增益运放来降低基准电流的失配。另外设计了启动电路以确保基准电路能正常工作。仿真结果表明此电路电源抑制比为73 dB,温度系数为9.6×10-6/℃。经过对系统的分析与验证,该电路完全满足高阶∑ΔADC对其性能的要求。

关 键 词:带隙基准  模数转换器  运算放大器  启动电路
文章编号:1003-353X(2007)10-0000-04
修稿时间:2007-04-06
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