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| 硅钢片磁性能单片测试仪几个问题的讨论 | |
| 引用本文： | 宫乃斌,潘兆兴,刘广德,张德良.硅钢片磁性能单片测试仪几个问题的讨论[J].电测与仪表,1987(2). |
| 作者姓名： | 宫乃斌 潘兆兴 刘广德 张德良 |
| 作者单位： | 山东省自行车研究所 (宫乃斌)，潍坊市标准计量局 (潘兆兴)，潍坊无线电八厂 (刘广德)，潍坊无线电八厂(张德良) |
| 摘 要： | 本文对于硅钢片磁性能单片测试仪在设计、制造和使用中的几个重要问题—磁轭厚度的选取,有效磁路长度的确定,试样的选取及其测法,线圈的绕制等进行了理伦分析和探讨,并结合CZ4型单片测试仪和CZ5型IEC标准单片测试仪的一些具体情况,加以进一步说明。理论分析和应用结果一致。 |
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