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ZnSe薄膜的激子光谱
引用本文:盛传祥,王兴军,俞根才,黄大鸣.ZnSe薄膜的激子光谱[J].半导体学报,2000,21(12):1177-1182.
作者姓名:盛传祥  王兴军  俞根才  黄大鸣
作者单位:复旦大学应用表面物理国家重点实验室,上海
基金项目:国家自然科学基金;69525408,19874013;
摘    要:采用分子束外延 (MBE)技术 ,在 Ga As(1 0 0 )衬底上生长了厚度从 0 .0 4 5到 1 .4μm的 Zn Se薄膜 .X射线衍射谱证实 ,随着薄膜厚度的增加 ,应变逐步弛豫 .测量了低温下样品的反射谱和光致发光谱 ,观察到轻重空穴的能级在不同应变下的分裂、移动和反转 ,以及激子极化激元 (Po-lariton)对反射谱的影响 .也观察到束缚激子发光随着薄膜厚度的变化规律 :束缚在中性受主杂质上的束缚激子发光 (I1峰 )随着薄膜厚度的增加逐渐变弱直至消失 ,而束缚在中性施主杂质上的束缚激子发光 (I2 峰 )则随着厚度增加逐渐增强 .

关 键 词:ZnSe    激子    光致发光
文章编号:0253-4177(2000)12-1177-06
修稿时间:1999年11月14日

Excitonic Spectra of ZnSe Thin Films Grown on GaAs Substrates
SHENG Chuan-xiang,WANG Xing-jun,YU Gen-cai and HUANG Da-ming.Excitonic Spectra of ZnSe Thin Films Grown on GaAs Substrates[J].Chinese Journal of Semiconductors,2000,21(12):1177-1182.
Authors:SHENG Chuan-xiang  WANG Xing-jun  YU Gen-cai and HUANG Da-ming
Abstract:
Keywords:ZnSe  exciton  photoluminesce  
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