相干条件演示仪与微流量的监测和控制

一、引言从科学技术史可以看出:传统的工业生产技术一旦引入物理学的原理、方法,常出现质与量的飞跃。例如物理学的光谱学使冶金生产的定性和定量分析的速度和精度提高几个数量级;物理光学的干涉原理使长度测量的精度大为改观。本文目的是通过一种新研制的物理仪器的介绍,为工业生产提供一种新的监测和控制技术途径。相干条件演示仪于1984年研制成功,其主要元件取得1985年国家专利,而仪器在1986年获得国家教委高教物理教学仪器优秀研究成果奖,并被选送到国际物理教育学术讨论会(ICPEN)上展出,得到各国专家好评,认为有独创,各国迄未见过。能否把它引入生产技术领域,创造经济效益?本文作了初步探讨。二、仪器介绍干涉现象是各类波共同的重要特征,用水波演示比较直观。各国物理演示仪器都用机械振子作相干波源,我们突破了传统方法,改用两串水滴作波源,不但可以清楚说明相干条