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X射线成像光斑检测装置研制
引用本文:温亚珍,胡金华,沈天明,李维姣,丁志平.X射线成像光斑检测装置研制[J].核电子学与探测技术,2014(5).
作者姓名:温亚珍  胡金华  沈天明  李维姣  丁志平
作者单位:1. 公安部第三研究所,上海,200031
2. 中晟光电设备 上海 有限公司,上海,201204
基金项目:公安部应用创新项目(2010YYCXGASS106)。
摘    要:设计了一种低成本,快速响应的X射线光斑检测装置,可用于解决系统结构偏差所引起的透视探测器接收位置处的光斑偏离。该装置通过检测关键点处的X光斑强度及分布情况以判断实际X光斑位置与理论设计的偏差,以此为依据进行多次调整可使系统光斑调节到一合理位置。

关 键 词:X射线成像  X射线强度  X射线光束  光斑检测

A Kind of Inspection Equipment Designing for X Ray Imaging Spot
WEN Ya-zhen,HU Jin-hua,SHEN Tian-ming,LI Wei-jiao,DING Zhi-ping.A Kind of Inspection Equipment Designing for X Ray Imaging Spot[J].Nuclear Electronics & Detection Technology,2014(5).
Authors:WEN Ya-zhen  HU Jin-hua  SHEN Tian-ming  LI Wei-jiao  DING Zhi-ping
Abstract:
Keywords:X ray imaging  X ray power  X ray beam  light spot inspection
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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