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| 贯彻MIL-STD-883C标准的集成电路老化测试系统 | |
| 引用本文： | 刘向东,李朝阳,谷宇章.贯彻MIL-STD-883C标准的集成电路老化测试系统[J].计算机测量与控制,1998(1):27-30. |
| 作者姓名： | 刘向东 李朝阳 谷宇章 |
| 作者单位： | 浙江大学光科系 |
| 摘 要： | 本文在介绍ＭＩＬ－ＳＴＤ－８８３Ｃ标准集成电路老化筛选试验方法的基础上，详细介绍了“ＰＩＣ－４集成电路高温动态老化实时测试系统”的设计过程，包括系统的总体结构、软硬件设计及其关键技术。 |
| 关 键 词： | 老化 老化中测试 集成电路 可靠性试验 |
| 修稿时间： | 97-09-19)□ |
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