关于CCD的噪声测量 |
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引用本文: | 刘颖,卢汉生.关于CCD的噪声测量[J].红外技术,1985(1). |
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作者姓名: | 刘颖 卢汉生 |
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作者单位: | 北京工业学院
(刘颖),北京工业学院(卢汉生) |
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摘 要: | 一、前言电荷耦合器件(简称CCD)是七十年代发展起来的新型固体器件,它代表了成象器件的发展方向,也可应用于微光成象。考虑到微光固体成象技术的发展,我们在现有条件下对我国研制的三相单行256位SCCLID(表面电荷耦合线阵成象器件)做了一些工作,现将初步结果介绍如下。二、原理CCD的主要噪声有输入噪声、转移噪声、暗电流噪声和输出噪声。通常CCD的各种噪声都以浮置扩散极输出电荷包电子数涨落量方均根值表示(以下设衬底为p型)。
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