|
|||||
|
|
| 脉冲颗粒噪声估计法估算CMOS图像传感器辐照强度 | |
| 作者姓名： | 林奎成 赵伟 吴柳青 |
| 作者单位： | 中国工程物理研究院材料研究所,四川绵阳621900 |
| 摘 要： | 提出了一种基于自适应阈值分割和形态学灰度重建的图像脉冲颗粒噪声估计方法,用于CMOS图像传感器辐照噪声强度估计.分析了可由图像脉冲颗粒噪声估计辐照强度的依据;利用自适应阈值估计方式,结合形态学膨胀腐蚀等操作,实现辐照图像中的弱光照区域分割;采用形态学灰度重建方法,检测弱光照区域的脉冲颗粒噪声分布,统计脉冲颗粒噪声的数量... |
| 关 键 词： | CMOS图像传感器 形态学灰度重建 自适应分割 辐照强度 |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ | |