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倒装芯片封装中非牛顿流体下填充的数值仿真
引用本文:姚兴军,张关华,王正东,章文俊,周鑫延. 倒装芯片封装中非牛顿流体下填充的数值仿真[J]. 半导体技术, 2013, 0(1): 69-73,78
作者姓名:姚兴军  张关华  王正东  章文俊  周鑫延
作者单位:华东理工大学机械与动力工程学院;萨斯喀彻温大学机械工程系
摘    要:倒装芯片封装中的下填充工艺可以有效地提高封装连接的可靠性,因而得到了广泛应用。含有硅填料的环氧树脂是常用的下填充胶料,在下填充流动过程中表现出明显的非牛顿流体特性。利用Fluent软件对具有非牛顿流体特性胶料的下填充过程进行了三维数值模拟。采用流体体积比函数(VOF)对流动前沿界面进行追踪,再用连续表面张力(CSF)模型来计算下填充流动的毛细驱动力,并用幂函数本构方程来体现下填充胶料的非牛顿流体特性。通过数值模拟,获得了下填充流动前沿位置随时间变化的数据,这些数据与实验结果有较好的吻合度。该数值方法可较好地预测具有非牛顿流体性质胶料的下填充过程。

关 键 词:倒装芯片  下填充  非牛顿流体  流体体积比函数  连续表面张力模型

Numerical Simulation of Non-Newtonian Underfill in Flip-Chip Packaging
Yao Xingjun,Zhang Guanhua,Wang Zhengdong,Zhang Wenjun,Zhou Xinyan. Numerical Simulation of Non-Newtonian Underfill in Flip-Chip Packaging[J]. Semiconductor Technology, 2013, 0(1): 69-73,78
Authors:Yao Xingjun  Zhang Guanhua  Wang Zhengdong  Zhang Wenjun  Zhou Xinyan
Affiliation:1(1.School of Mechanical and Power Engineering,East China University of Science and Technology,Shanghai 200237,China; 2.Department of Mechanical Engineering,University of Saskatchewan,Saskatoon S7N 5A9,Canada)
Abstract:
Keywords:
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