LED水汽侵蚀失效分析 |
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引用本文: | 刘滨,夏姗姗,周海涛,邓克俭.LED水汽侵蚀失效分析[J].电子质量,2023(6):33-36. |
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作者姓名: | 刘滨 夏姗姗 周海涛 邓克俭 |
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作者单位: | 工业和信息化部电子第五研究所 |
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摘 要: | 通过I-V特性曲线测试、机械开封、光学观察、扫描电镜及能谱分析、切片观察和红墨水试验等测试手段,对失效LED和正常LED进行了测试,并对测试结果进行了对比分析。结果显示失效样品I-V特性曲线异常;存在短路现象,电镜观察失效样品芯片表面出现树枝状银物质,同时观察到支架与环氧胶界面存在缝隙,由此推断出水汽入侵路径。结合失效背景,得出LED灯珠失效原因为LED支架与环氧胶的界面存在缝隙,水汽通过缝隙侵入,在电场作用下,芯片正极发生银迁移,导致样品失效。并提出了相应的改进措施,对于提高LED产品的可靠性具有一定的参考意义。
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关 键 词: | 发光二极管 水汽侵蚀 银迁移 失效分析 |
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