基于V93000 ATE性能测试方法的实现

针对SoC芯片ATE性能测试进行了研究，分析芯片性能测试的关键参数和典型测试类型（内部模块性能测试和接口数据流性能测试）。基于这两种测试类型，以“Date Rate”性能测试为例，分别进行了测试方法的实现。内部模块性能测试的实现，通过指示信号输出性能测试开始和结束波形，采用逆向思维通过“ERCT”获取代表性能运行时间的“Fail Cycle”数，然后对性能时间进行计算来获得性能测试值。接口数据流性能测试的实现，主要通过“Digital Capture”捕获接口数据，然后对接口数据进行处理和计算来获得性能测试值。上述性能测试方法及原理，在ATE测试应用中具有通用性，对于相同或相似的基于时间参数的芯片性能测试具有参考作用。