浮动Ⅵ源的应用研究

Ⅵ源是半导体集成电路性能测试机的核心资源，共性能直接影响着整个测试系统的性能。Ⅵ源通常包括浮动Ⅵ源和共地Ⅵ源。介绍了浮动Ⅵ源相比共地Ⅵ源的优势，例如：浮动Ⅵ源的可叠加性，满足了高电压大电流的要求；浮动Ⅵ源的功能和触发测量功能，极大地提升了阈值参数的测试效率和测试精度；浮动Ⅵ源使高精度差分电压测试更稳定和精确。同时也指出，浮动Ⅵ源并非完全没有缺点，应根据具体应用情况合理地选择Ⅵ源。