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光导型GaN/Si探测器的研制
引用本文:江若琏,席冬娟,赵作明,陈鹏,沈波,张荣,郑有炓. 光导型GaN/Si探测器的研制[J]. 功能材料与器件学报, 2000, 6(3): 256-258
作者姓名:江若琏  席冬娟  赵作明  陈鹏  沈波  张荣  郑有炓
作者单位:南京大学物理系,南京210093
基金项目:863计划,国家自然科学基金资助项目!(69987001,69636010,69806006)
摘    要:采用MOCVD技术在Si(111)衬底上生长GaN薄膜,经此材料制备成光导型Si基GaN紫外探测器。探测器的光谱响应表明,在紫外波段250 ̄360nm有近于平坦的光电流响应,363nm附近有陡峭的截止边,357nm波长处5V偏压下的响应度高达6.9A/W。响应度与偏压的变化关系表明,4V以前为线性增加,5V后达到饱和。

关 键 词:响应度 光导型GaN/Si探测器 研制 MOCVD
修稿时间::

Fabrication of GaN/Si photoconductive detectors
JIANG Ruo-lian,XI Dong-juan,ZHAO Zuo-ming,CHEN Peng,SHEN Bo,ZHANG Rong,ZHENG You-dou. Fabrication of GaN/Si photoconductive detectors[J]. Journal of Functional Materials and Devices, 2000, 6(3): 256-258
Authors:JIANG Ruo-lian  XI Dong-juan  ZHAO Zuo-ming  CHEN Peng  SHEN Bo  ZHANG Rong  ZHENG You-dou
Abstract:
Keywords:GaN/Si  Detector  Responsivility  
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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