| 稀磁半导体Cd_(1-x)Mn_xS磁化率的研究 |
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| 引用本文： | 陈辰嘉,瞿明,胡巍,张昕,马可军,W.Giriat.稀磁半导体Cd_(1-x)Mn_xS磁化率的研究[J].半导体学报,1992,13(8):457-462. |
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| 作者姓名： | 陈辰嘉 瞿明 胡巍 张昕 马可军 W.Giriat |
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| 作者单位： | 北京大学物理系，北京大学物理系，北京大学物理系，北京大学物理系，中国科学院上海技术物理研究所，Centro de Fisica，Instituto Venezolano de Investigaciones Cientificas，Caracas 1020A，Venezuela 北京100871，北京100871，北京100871，北京100871，上海200081 |
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| 摘 要： | 用振动样品磁强计和提拉法在1.5K≤T≤300K温度范围内系统测量了组分为0.03≤x≤0.45的Cd_(1-x)Mn_xS稀磁半导体单晶样品的磁化率.磁化率测量表明在高温区服从居里-外斯定律。从定量分析得到Mn~(++)离子间交换积分常数值.低场磁化率与温度变化规律(最低温度达1.5K)表明当样品x≤0.2时,体系仍然为顺磁态;而当样品组分x=0.3时,经零场冷却后磁化率在温度T_f处观测到一个尖峰,对x>0.3样品亦得到类似结果,只是磁化率在不同冻结温度T_f处对应一个较宽的峰。这些结果说明在低温区发生从顺磁态到自旋玻璃态的相变.文中给出Cd_(1-x)Mn_sS的磁相图并对此作了讨论.
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| 关 键 词： | 稀磁半导体 磁化率 测量 磁相图 |
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