| 电子背散射衍射技术在材料显微分析中的应用 |
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| 引用本文： | 王疆,孙学鹏,郦剑. 电子背散射衍射技术在材料显微分析中的应用[J]. 热处理, 2008, 23(2): 41-44 |
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| 作者姓名： | 王疆 孙学鹏 郦剑 |
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| 作者单位： | 辽宁科技大学高等职业技术学院,辽宁,鞍山,114044;浙江大学金属材料研究所,浙江,杭州,310027;浙江大学金属材料研究所,浙江,杭州,310027 |
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| 摘 要： | 介绍了电子背散射衍射的原理、装置的构造、分析方法及其应用。电子背散射系统（EBSD）与能谱（EDS）和扫描电镜一起工作可同时分析试样特定微区的形貌、成分和取向。当电子束逐点扫描分析时，还可获得一种全新的图象即晶体取向分布图，从而获取微区的形貌、成分及成分的定量分布图。以纯铁为例，对该技术进行了验证。
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| 关 键 词： | 电子背散射衍射 扫描电镜 晶体取向 电子背散射衍射花样 |
| 文章编号： | 1008-1690(2008)02-0041-004 |
| 修稿时间： | 2007-04-18 |
Application of Electron Backscattered Diffraction to Microscopic Analysis of Materials |
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| WANG Jiang,SUN Xue-peng,LI Jian. Application of Electron Backscattered Diffraction to Microscopic Analysis of Materials[J]. Heat Treatment, 2008, 23(2): 41-44 |
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| Authors: | WANG Jiang SUN Xue-peng LI Jian |
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