| 功率MOSFET管的热疲劳寿命预测 |
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| 引用本文： | 刘培生,黄金鑫,卢颖,杨龙龙.功率MOSFET管的热疲劳寿命预测[J].电子元件与材料,2015(1):96-99. |
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| 作者姓名： | 刘培生 黄金鑫 卢颖 杨龙龙 |
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| 作者单位： | 南通大学 江苏省专用集成电路设计重点实验室,江苏 南通,226019 |
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| 摘 要： | 通过ANSYS有限元分析软件对TO-263器件功率MOSFET管进行电-热-机械耦合分析,并对其热疲劳寿命作出预测。首先进行了瞬态热分析,得出了芯片的热通量变化图,在此基础上进行模拟并通过Coffin-Manson定律预测功率MOSFET管的热疲劳寿命。结果表明,TO-263器件功率MOSFET管的热疲劳失效循环总数为6 113。
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| 关 键 词： | MOSFET 仿真 TO-263器件 可靠性 疲劳寿命 失效 |
Prediction of thermal fatigue life on power MOSFET |
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| LIU Peisheng,HUANG Jinxin,LU Ying,YANG Longlong.Prediction of thermal fatigue life on power MOSFET[J].Electronic Components & Materials,2015(1):96-99. |
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| Authors: | LIU Peisheng HUANG Jinxin LU Ying YANG Longlong |
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| Affiliation: | LIU Peisheng;HUANG Jinxin;LU Ying;YANG Longlong;Jiangsu Key Laboratory of ASIC Design, Nantong University; |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | MOSFET simulation TO-263 device reliability fatigue life failure |
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