| 一种Flash型FPGA单粒子效应测试方法设计及验证 |
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| 引用本文： | 杨振雷,王晓辉,苏弘,刘杰,杨海波,成科,童腾.一种Flash型FPGA单粒子效应测试方法设计及验证[J].核技术,2015(2):39-45. |
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| 作者姓名： | 杨振雷 王晓辉 苏弘 刘杰 杨海波 成科 童腾 |
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| 作者单位： | 中国科学院近代物理研究所;中国科学院大学;西北师范大学 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金(No.11079045;No.11305233)资助 |
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| 摘 要： | 随着现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)在现代航天领域的广泛应用,FPGA的单粒子效应(Single Event Effect,SEE)逐渐成为人们的研究热点。选择Microsemi公司Flash型FPGA分布范围最广的可编程逻辑资源VersaTile和对单粒子效应敏感的嵌入式RAM单元RAM Block作为单粒子效应的主要测试对象,提出了两种不同的单粒子效应测试方法;然后,使用仿真工具ModelSim对提出的两种电路的可行性进行了仿真验证;最后,基于自主研发的实验测试平台,在兰州重离子加速器(Heavy Ion Research Facility in Lanzhou,HIRFL)上使用86Kr束进行了束流辐照实验,实验结果表明,测试方法合理有效。
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| 关 键 词： | 现场可编程门阵列 单粒子效应 VersaTile RAM Block |
Design and verification of test method for the single event effect in flash-based FPGA |
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| YANG Zhenlei;WANG Xiaohui;SU Hong;LIU Jie;YANG Haibo;CHENG Ke;TONG Teng.Design and verification of test method for the single event effect in flash-based FPGA[J].Nuclear Techniques,2015(2):39-45. |
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| Authors: | YANG Zhenlei;WANG Xiaohui;SU Hong;LIU Jie;YANG Haibo;CHENG Ke;TONG Teng |
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| Affiliation: | YANG Zhenlei;WANG Xiaohui;SU Hong;LIU Jie;YANG Haibo;CHENG Ke;TONG Teng;Institute of Modern Physics,Chinese Academy of Sciences;University of Chinese Academy of Sciences;Northwest Normal University; |
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