首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

0.7微米i线分步重复投影光刻曝光系统研制
引用本文:陈旭南,姚汉民.0.7微米i线分步重复投影光刻曝光系统研制[J].微细加工技术,1997(4):1-7.
作者姓名:陈旭南  姚汉民
作者单位:中国科学院光电技术研究所!成都,610209,中国科学院光电技术研究所!成都,610209,中国科学院光电技术研究所!成都,610209,中国科学院光电技术研究所!成都,610209
摘    要:本文介绍0.7μm线分步重复投影光刻曝光系统的技术指标、系统设计、研制中解决的关键单元技术和研制结果。结果表明工作波长365nm,缩少倍率5倍.曝光视场15mm×15mm.光刻工作分辨力0.6μm,并具有双路暗场同轴对准.又能精确分步投影光刻的曝光系统已研制成功。

关 键 词:07μm  i线  分步重复投影光刻曝光
本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号