0.7微米i线分步重复投影光刻曝光系统研制 |
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引用本文: | 陈旭南,姚汉民.0.7微米i线分步重复投影光刻曝光系统研制[J].微细加工技术,1997(4):1-7. |
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作者姓名: | 陈旭南 姚汉民 |
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作者单位: | 中国科学院光电技术研究所!成都,610209,中国科学院光电技术研究所!成都,610209,中国科学院光电技术研究所!成都,610209,中国科学院光电技术研究所!成都,610209 |
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摘 要: | 本文介绍0.7μm线分步重复投影光刻曝光系统的技术指标、系统设计、研制中解决的关键单元技术和研制结果。结果表明工作波长365nm,缩少倍率5倍.曝光视场15mm×15mm.光刻工作分辨力0.6μm,并具有双路暗场同轴对准.又能精确分步投影光刻的曝光系统已研制成功。
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关 键 词: | 07μm i线 分步重复投影光刻曝光 |
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