| 基于边界扫描技术的新一代电路板测试平台 |
| |
| 引用本文： | 高天虹.基于边界扫描技术的新一代电路板测试平台[J].国外电子测量技术,2015,34(11):10-13. |
| |
| 作者姓名： | 高天虹 |
| |
| 作者单位： | 北京中科泛华测控技术有限公司 |
| |
| 摘 要： | 随着电子设备复杂程度的日益提高，其核心电路板的品质已成为决定电子设备质量和性能的重要因素，而电路板的测试主要面临技术、周期和费用3大方面的挑战，集成最新技术的电路板测试平台被越来越多的测试工程师所关注。基于泛华电路板测试平台可以实现电路板的功能测试与诊断，利用边界扫描技术，能够快速适应多种类电路板的共平台测试，基于云端数据服务与专家库技术，能够快速进行故障定位。
|
PCB testing platform based on boundary scan technology |
| |
| Gao Tianhong.PCB testing platform based on boundary scan technology[J].Foreign Electronic Measurement Technology,2015,34(11):10-13. |
| |
| Authors: | Gao Tianhong |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ |
| 点击此处可从《国外电子测量技术》浏览原始摘要信息 |
|
点击此处可从《国外电子测量技术》下载全文 |
|
