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| 集成电路电磁兼容测试技术概述 | |
| 引用本文： | 王媛媛,许琼,童军.集成电路电磁兼容测试技术概述[J].硅谷,2008(19):34-34. |
| 作者姓名： | 王媛媛 许琼 童军 |
| 作者单位： | 西安科技大学电气与控制工程学院,陕西,西安,710054 |
| 摘 要： | 随着电子工业的发展,集成电路的功能要求日趋多样化,内部结构日趋复杂化,越来越多的功能,甚至是一个完整的片上系统都能够被集成到单个芯片之中,包含模拟、数字等多种形式的工作电路于一体.这种发展趋势使得芯片级的电磁兼容问题显得尤为突出.主要介绍集成电路电磁发射测量技术的发展状况. |
| 关 键 词： | 集成电路 电磁兼容 测试 |
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