基于STM32F103的涂镀层测厚仪

文中设计了一种基于STM32F103的涂镀层测厚仪。测厚仪可以实现对金属表面的涂镀层厚度的高精度测量。具体可测量铁一类的磁性材料表面的涂镀层厚度,也可以测量铝一类的非磁性材料表面的涂镀层厚度。测厚仪的探头结合磁感应测厚法和电涡流测厚法,能够把涂镀层厚度的变化通过相应的电路精确转化为频率的变化,然后经过算法拟合和自适应修正将数据进行处理,最后通过液晶屏将测量结果显示出来。测试结果表明该测厚仪精度较高,而且具有成本低、续航长等特点。