| HTPB推进剂老化机理的分子模拟 |
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| 引用本文： | 杜仕国,秦浩,闫军,李洪广,孟胜皓.HTPB推进剂老化机理的分子模拟[J].含能材料,2014,22(3):291-294. |
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| 作者姓名： | 杜仕国 秦浩 闫军 李洪广 孟胜皓 |
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| 作者单位： | 军械工程学院, 河北 石家庄 050003;军械工程学院, 河北 石家庄 050003;军械工程学院, 河北 石家庄 050003;军械工程学院, 河北 石家庄 050003;军械工程学院, 河北 石家庄 050003 |
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| 摘 要： | 为了研究HTPB推进剂的老化机理,采用量子化学方法,计算了端羟基聚丁二烯-甲苯二异氰酸酯(HTPB-TDI)固化体系中化学键的键能,搜索了HTPB推进剂老化过程中可能发生的四个氧化反应的过渡态。结果表明,与CH2基团相连的C—O键的键能最小,为244.95 kJ·mol-1,在老化降解过程最容易发生断裂。老化过程中可能发生的四种氧化交联反应的活化能均较小,小于HTPB-TDI固化分子降解断裂所需要的能量,说明氧化交联反应是HTPB推进剂老化的主要原因,其中生成三元环氧反应的活化能最小,为12.59 kJ·mol-1。
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| 关 键 词： | 高分子化学 老化机理 降解 氧化交联 分子模拟 |
| 收稿时间： | 2013/7/31 0:00:00 |
| 修稿时间： | 2013/10/24 0:00:00 |
Molecular Simulation of Aging Mechanism for HTPB Propellants |
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| DU Shi-guo,QIN Hao,YAN Jun,LI Hong-guang and MENG Sheng-hao.Molecular Simulation of Aging Mechanism for HTPB Propellants[J].Chinese Journal of Energetic Materials,2014,22(3):291-294. |
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| Authors: | DU Shi-guo QIN Hao YAN Jun LI Hong-guang and MENG Sheng-hao |
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| Affiliation: | The Ordnance Engineering College, Shijiazhuang 050003, China;The Ordnance Engineering College, Shijiazhuang 050003, China;The Ordnance Engineering College, Shijiazhuang 050003, China;The Ordnance Engineering College, Shijiazhuang 050003, China;The Ordnance Engineering College, Shijiazhuang 050003, China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | polymer chemistry aging mechanism degradation oxidative cross-linking molecular simulation |
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