聚酰亚胺薄膜老化过程中的结构与性能演变机理研究

制备了BPDA/ODA、BP DA/PDA和PMDA/ODA体系的聚酰亚胺(PI)薄膜,探究不同化学结构的PI薄膜在热氧和紫外辐照等外界环境条件下的结构与性能演变。力学性能测试表明,热氧和紫外辐照会导致PI薄膜力学性能下降,但不同化学结构的PI薄膜下降趋势不同,其中PMDA/ODA下降最快,BPDA/PDA下降最慢。红外测试结果表明,热氧和紫外辐照老化过程中酰亚胺环中的C—N键最先发生断裂,导致PI薄膜亚胺化程度降低,力学性能下降。此外,电子自旋共振光谱仪相对其他表征方法在PI薄膜老化初期可以较为直观地检测到自由基浓度随老化时间的变化,可作为PI材料早期老化诊断的手段。