| 电子设备的电磁兼容仿真设计 |
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| 引用本文： | 唐金欢,张帆. 电子设备的电磁兼容仿真设计[J]. 电子质量, 2007, 0(8): 85-88 |
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| 作者姓名： | 唐金欢 张帆 |
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| 作者单位： | 西安电子科技大学,机电工程学院,西安,陕西,710071;西安电子科技大学,机电工程学院,西安,陕西,710071 |
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| 摘 要： | 电子设备电磁屏蔽效能的好坏直接影响着其电磁兼容性能，而孔洞的泄漏是影响屏蔽效果的主要原因。针对这个问题，本文运用电磁兼容仿真软件FEKO建模分析计算了孔洞形状、数量、大小及排列对电子设备电磁屏蔽效能的影响，提出了具体的设计建议。
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| 关 键 词： | 电子设备 孔洞 电磁兼容仿真 |
| 文章编号： | 1003-0107（2007）08-0085-04 |
The EMC Simulation and Design for electric equipments |
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| Tang Jin-huan,Zhang Fan. The EMC Simulation and Design for electric equipments[J]. Electronics Quality, 2007, 0(8): 85-88 |
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| Authors: | Tang Jin-huan Zhang Fan |
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| Affiliation: | Mechanical-electronic Engineering Institute of Xi dian university, Xi an,710071 ,China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Electronic equipments Apertures EMC Simulation |
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