| 固体绝缘介质表面陷阱参数的分析 |
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| 引用本文： | 杨凯,郑楠,张冠军,董明,严璋.固体绝缘介质表面陷阱参数的分析[J].高电压技术,2007,33(9):13-16. |
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| 作者姓名： | 杨凯 郑楠 张冠军 董明 严璋 |
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| 作者单位： | 西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室,西安,710049;西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室,西安,710049;西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室,西安,710049;西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室,西安,710049;西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室,西安,710049 |
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| 基金项目： | 教育部"优秀青年教师资助计划" |
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| 摘 要： | 为了研究聚合物绝缘材料表面陷阱参数对其绝缘性能的影响,在简述了等温电流衰减理论后依该理论设计了材料表面陷阱分布测量装置,并实际测量了聚合物低密度聚乙烯、聚丙烯和聚四氟乙烯的表面陷阱分布。在对材料直流充电后将其短路1min以清除表面沉积的自由电荷,再移去短路电极并将探头迅速移至材料表面充电区域记录表面电位。实验保持恒温条件,用等温电流衰减理论计算材料的陷阱分布参数。实验表明电子空穴陷阱与材料的分子结构密切相关,聚合物不同高分子链影响着陷阱电荷的分布。
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| 关 键 词： | 固体绝缘 陷阱参数 等温电流 聚合物 电晕 陷阱能级 |
| 文章编号： | 1003-6520（2007）09-0013-04 |
| 修稿时间： | 2006-11-20 |
Analysis of Surface Trapping Parameters of Solid Insulation Dielectrics |
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| YANG Kai,ZHENG Nan,ZHANG Guan-Jun,DONG Ming,YAN Zhang.Analysis of Surface Trapping Parameters of Solid Insulation Dielectrics[J].High Voltage Engineering,2007,33(9):13-16. |
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| Authors: | YANG Kai ZHENG Nan ZHANG Guan-Jun DONG Ming YAN Zhang |
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| Affiliation: | (State Key Laboratory of Electrical Insulation and Power Equipment,Xi’an Jiaotong University,Xi’an 710049,China) |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | solid insulation trapping parameters isothermal currents polymers corona traps energy |
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