| 单片机技术在时间继电器测试中的应用 |
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| 引用本文： | 钱金川,朱守敏. 单片机技术在时间继电器测试中的应用[J]. 电气应用, 2006, 25(1): 38-40 |
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| 作者姓名： | 钱金川 朱守敏 |
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| 作者单位： | 浙江泰华电器有限公司,325604;浙江泰华电器有限公司,325604 |
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| 摘 要： | 介绍时间继电器延时参数的测试,单片机测试框图以及软件流程。另外对检测的外围线路以及对在检测过程中的电磁兼容EMC问题也进行了相关介绍和说明。
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| 关 键 词： | 时间继电器 延时参数测试 单片机 外围硬件线路 EMC |
| 修稿时间： | 2005-08-29 |
SCM Technology Test in Time Relay |
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| Qian Jinchuan. SCM Technology Test in Time Relay[J]. Electrotechnical Application, 2006, 25(1): 38-40 |
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| Authors: | Qian Jinchuan |
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| Abstract: | The time-delay parameter test of time relay,SCM test block diagram and software flow chart are introduced.In addition,the test periphery circuit and electromagnetic compatibility(EMC)problems during test progress are explained. |
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| Keywords: | EMC |
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