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分子束外延中波红外碲镉汞原位p-on-n技术研究
引用本文:覃钢, 李东升, 李雄军, 李艳辉, 王向前, 杨彦, 铁筱莹, 左大凡, 薄俊祥. 分子束外延中波红外碲镉汞原位p-on-n技术研究[J]. 红外技术, 2016, 38(10): 820-824.
作者姓名:覃钢  李东升  李雄军  李艳辉  王向前  杨彦  铁筱莹  左大凡  薄俊祥
作者单位:1.昆明物理研究所
摘    要:研究分析了采用MBE技术外延中波碲镉汞薄膜原位p-on-n材料生长结构及掺杂浓度。掌握了MBE碲镉汞原位p-on-n薄膜材料的生长温度、掺杂浓度和p-n结界面的控制技术,研究了原位p-on-n材料杂质的电学激活退火技术。利用傅里叶变换红外透过测试拟合得到了材料的组分、厚度均匀性,利用X-ray双晶衍射测试结果分析了晶体质量,并统计了材料的EPD值。利用SIMS测试分析了材料中杂质分布状况和浓度,对台面器件I-V特性曲线进行了测试分析。

关 键 词:分子束外延  碲镉汞  原位p-on-n  I-V曲线

Research on the Technique of in-situ p-on-n MWIR-MCT by MBE
QIN Gang, LI Dongsheng, LI Xiongjun, LI Yanhui, WANG Xiangqian, YANG Yan, TIE Xiaoying, ZUO Dafan, BO Junxiang. Research on the Technique of in-situ p-on-n MWIR-MCT by MBE[J]. Infrared Technology , 2016, 38(10): 820-824.
Authors:QIN Gang  LI Dongsheng  LI Xiongjun  LI Yanhui  WANG Xiangqian  YANG Yan  TIE Xiaoying  ZUO Dafan  BO Junxiang
Abstract:
Keywords:
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