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原位分散聚合制备纳米PANI-SiO2薄膜的性能
引用本文:魏琦,王新,慕晶霞,范海军,吴其晔. 原位分散聚合制备纳米PANI-SiO2薄膜的性能[J]. 现代塑料加工应用, 2007, 19(5): 1-4
作者姓名:魏琦  王新  慕晶霞  范海军  吴其晔
作者单位:青岛科技大学教育部橡塑材料与工程重点实验室,山东,青岛,266042
摘    要:采用纳米二氧化硅(SiO2)作空间稳定剂,通过苯胺的原位分散聚合在玻璃表面直接制备PANI-SiO2透明导电纳米复合膜。薄膜的表观形态和组成通过扫描电镜(SEM)、红外光谱分析(FTIR)、紫外可见光谱分析(UV-Vis)进行了表征。结果发现,薄膜的形成经历了成核、生长、生长饱和3个明显的过程,薄膜表面光滑致密,膜厚在3~300nm;SiO2对薄膜表面质量有良好改善作用,对薄膜的导电率稍有影响。此外对成膜机理进行了讨论。

关 键 词:原位分散聚合  聚苯胺  纳米二氧化硅  薄膜  成膜机理
修稿时间:2007-04-13

Properties of PANI-SiO2 Films Prepared by In-Situ Dispersion Polymerization
Wei Qi,Wang Xin,Mu Jingxia,Fan Haijun,Wu Qiye. Properties of PANI-SiO2 Films Prepared by In-Situ Dispersion Polymerization[J]. Modern Plastics Processing and Applications, 2007, 19(5): 1-4
Authors:Wei Qi  Wang Xin  Mu Jingxia  Fan Haijun  Wu Qiye
Affiliation:Key Laboratory of Rubber-Plastics, Ministry of Education, Qingdao University of Science and Technology, Qingdao, Shandong,266042
Abstract:
Keywords:in-situ dispersion polymerization   polyaniline   nanometer silicon dioxide   film   formation mechanism
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