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一种新型深紫外正型光致抗蚀剂材料的研究
引用本文:褚战星 程龙 王文君 王力元. 一种新型深紫外正型光致抗蚀剂材料的研究[J]. 感光科学与光化学, 2006, 24(5): 377-381
作者姓名:褚战星 程龙 王文君 王力元
作者单位:[1]北京师范大学化学学院,北京100875 [2]北京化学试剂研究所,北京100022
基金项目:国家“十五”“863”专项子课题(2002AA321330-2).
摘    要:通过松香酸和丙烯酸的Diels—Alder反应得到了一种二酸——丙烯海松酸.丙烯海松酸有大的脂环结构和良好的成膜性,在固体膜层中,它可以和二乙烯基醚,如1,3-二乙烯氧基乙氧基苯,在加热条件下(80℃以上)发生反应,产物在稀碱水中难溶.这样形成的产物在光产酸剂产生的强酸催化下,在温度高于100℃时,可以迅速分解,从而变成稀碱水易溶.因此,用此二酸、二乙烯基醚和产酸剂可组成一种正型的光致抗蚀剂,当用254nm的低压汞灯曝光时,其感度在30mJ/cm^2以下.

关 键 词:正型光致抗蚀剂 二乙烯基醚 丙烯海松酸 光产酸剂
文章编号:1000-3231(2006)05-0377-05
收稿时间:2006-03-01
修稿时间:2006-05-10

Studies on a Novel Deep UV Positive Photoresist Material
CHU Zhan-xing, CHENG Long, WANG Wen-jun, WANG Li-yuan. Studies on a Novel Deep UV Positive Photoresist Material[J]. Photographic Science and Photochemistry, 2006, 24(5): 377-381
Authors:CHU Zhan-xing   CHENG Long   WANG Wen-jun   WANG Li-yuan
Affiliation:1. Chemistry College of Beijing Normal University, Beijing 100875, P. R. China ; 2. Beijing Institute of Chemical Reagents, Beijing 100022, P. R. China
Abstract:
Keywords:positive photoresist   divinyl ether   acrylpimaric acid   photoacid generator
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