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铝靶脉冲反应溅射沉积氧化铝薄膜中的迟滞回线的研究
引用本文:茅昕辉,刘云峰.铝靶脉冲反应溅射沉积氧化铝薄膜中的迟滞回线的研究[J].真空科学与技术,2000,20(2):88-91.
作者姓名:茅昕辉  刘云峰
作者单位:东南大学薄膜研究所
摘    要:采用脉冲磁控反应溅射工艺进行氧化铝薄膜的沉积实验,对该工艺过程中溅射电压和沉积速率与氧流量的“迟滞回线”现象进行了研究。通过给出靶面刻蚀区氧化层厚度与氧分压之间的关系,解释了薄膜沉积速率变化的原因。

关 键 词:迟滞回线  反应溅射  脉冲溅射  氧化铝薄膜
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