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生长速率对反应蒸发制备ITO薄膜光电性能的影响
引用本文:李林娜,孙建,薛俊明,李养贤,赵颖,耿新华.生长速率对反应蒸发制备ITO薄膜光电性能的影响[J].光电子.激光,2007,18(1):24-26,29.
作者姓名:李林娜  孙建  薛俊明  李养贤  赵颖  耿新华
作者单位:1. 河北工业大学材料科学与工程学院,天津,300130;南开大学光电子薄膜器件与技术研究所,天津市重点实验室,光电信息技术科学教育部重点实验室,天津,300071
2. 南开大学光电子薄膜器件与技术研究所,天津市重点实验室,光电信息技术科学教育部重点实验室,天津,300071
3. 河北工业大学材料科学与工程学院,天津,300130
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划) , 天津市科技发展基金 , 天津市自然科学基金
摘    要:用电阻加热反应蒸发的方法制备氧化铟锡(ITO)薄膜,测试了膜的电阻率、可见光透过率、载流子浓度和迁移率,讨论生长速率对薄膜光电性能的影响.并在衬底温度为160 ℃、反应压强为1.4×10-1 Pa的条件下,制得可见光范围平均透过率为93%、电阻率为4.7×10-4 Ω·cm的ITO透明导电薄膜.

关 键 词:氧化铟锡(ITO)薄膜  电阻率  载流子浓度  迁移率  透过率
文章编号:1005-0086(2007)01-0024-03
收稿时间:2006/3/31 0:00:00
修稿时间:2006-03-312006-06-14

Preparation and Properties of Indium Tin Oxide Films Deposited by Reactive Evaporation at Different Deposited Rate
LI Lin-n,SUN Jian,XUE Jun-ming,LI Yang-xian,ZHAO Ying,GENG Xin-hua.Preparation and Properties of Indium Tin Oxide Films Deposited by Reactive Evaporation at Different Deposited Rate[J].Journal of Optoelectronics·laser,2007,18(1):24-26,29.
Authors:LI Lin-n  SUN Jian  XUE Jun-ming  LI Yang-xian  ZHAO Ying  GENG Xin-hua
Abstract:
Keywords:indium-tin oxide(ITO) films  electrical resistivity  carrier concentration  Hall mobility  optical transmittance
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