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| 基于可测试性设计的测试综合技术初探 | |
| 引用本文： | 邱峰,梁松海.基于可测试性设计的测试综合技术初探[J].计算机自动测量与控制,1999,7(1):34-36. |
| 作者姓名： | 邱峰 梁松海 |
| 摘 要： | 本文从测试性设计的角度出发，讨论了测试综合技术的必要性，以及测试综合的方法与步骤。 |
| 关 键 词： | 可测试性设计 测试综合 VLSI 集成电路 |
| 本文献已被 维普 等数据库收录！ | |
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