| 摘 要： | 一、引言荧光寿命的精确测量在光谱学、光化学及光生物学的研究中,是一个十分重要的课题。荧光寿命的精确测量通常是采用脉冲技术来实现。如果样品的荧光寿命小于或接近激发脉冲宽度及检测系统的响应时间时,直接观测到的荧光衰变曲线就不再是真实的荧光衰变曲线,而是仪器响应函数与真实荧光衰变的卷积结果。为了获得真实的荧光衰变曲线,必须对观测结果进行解卷积处理。对单指数型的衰变过程,用相平面法是最简单的解卷积方法。它具有计算程序简单,计算速度快的优点。相平面法的线性输出,为估计仪器偏差和更复杂的动力学过程提供很有用的信息。Demas等人曾用该方法对用示波器观测的荧光衰变进行处理,以检测微秒量级的荧光寿命。其后又用单光子计数毫微秒荧光光度计,在无噪声情况下获得微微秒量级的荧光寿命的测量结果。但是用毫微秒响应的通用仪器,检测微微秒量级的荧光寿命的工作至今尚未见报导。由于使用相平面法进行解卷积处理时,要求仪器响应与荧光衰变具有同一时间零点,当存在时间漂移时,将使相平面法失效。但在使用通用的检测仪器时,经常会出现时间零点漂移的现象,其漂移量约为亚毫微秒量级。因此零点漂移对于检测微秒量级的寿命可以忽略不计,但在检测亚毫微秒量级的寿命时,就显得严重,成为使用相平面法的主要障碍。
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