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基于成像系统应用的低噪声Si-CMOS读出电路设计
引用本文:孟庆超,翟艳,朱樟明.基于成像系统应用的低噪声Si-CMOS读出电路设计[J].电子质量,2004(8):69-70,77.
作者姓名:孟庆超  翟艳  朱樟明
作者单位:西安电子科技大学微电子研究所,西安,710071;西安电子科技大学微电子研究所,西安,710071;西安电子科技大学微电子研究所,西安,710071
摘    要:本文分析了读出电路的工作原理,基于相关双采样(CDS)技术,提出了一种改进的电容跨导放大器(CTIA)结构的Si-CMOS读出电路,并详细介绍了电路结构及工作过程.

关 键 词:读出电路  低噪声  电容跨导放大器  相关双采样
文章编号:1003-0107(2004)08-0069-02

Design of Low Noise Si-CMOS Readout Circuit For the imaging Applications
Meng Qing-chao,Zhai Yan,Zhu Zhang-ming.Design of Low Noise Si-CMOS Readout Circuit For the imaging Applications[J].Electronics Quality,2004(8):69-70,77.
Authors:Meng Qing-chao  Zhai Yan  Zhu Zhang-ming
Abstract:The operational mechanism of readout circuit are analyzed and methods for decreasing noises are presented in this paper. An improved readout circuit with CTIA is put forward, and the correlated double sampling technology is used. The structure and operational mechanism of the circuit are detailed.
Keywords:Readout circuit  Low noise  Capacitive Transimpedance Amplifier  Correlated double sample  
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