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阳极氧化铝作缓冲层的Si基GaN生长
引用本文:陈鹏,江若琏,王军转,赵作明,梅永丰,沈波,张荣,吴兴龙,顾书林,郑有炓. 阳极氧化铝作缓冲层的Si基GaN生长[J]. 高技术通讯, 2002, 12(4): 52-54
作者姓名:陈鹏  江若琏  王军转  赵作明  梅永丰  沈波  张荣  吴兴龙  顾书林  郑有炓
作者单位:火斗,南京大学物理系,南京,210093;南京大学物理系,南京,210093
基金项目:国家基础研究计划 (G2 0 0 0 0 6 83),国家自然科学基金 ( 6 99870 0 1,6 9976 0 14,6 980 6 0 0 6 )资助项目
摘    要:尝试了Si基上生长GaN外延层的一种新的缓冲层材料一阳极氧化铝,在Si(111)衬底上电子束蒸发铝膜,经阳极氧化后放入MOCVD系统中退火,然后进行GaN外延生长,对材料的微结构和电学性质进行了测量和分析,并将得到的GaN材料制备成光导型的紫外光电探测器,器件在330-380nm紫外光区域有明显的响应,最后响应度为3.5A/W(5V偏压)。

关 键 词:GaN  阳极氧化铝  缓冲层  紫外探测器

GaN Growth on Si Substrate Using Anodic Alumina as Buffer Layer
Chen Peng,Jiang Ruolian,Wang Junzhuan,Zhao Zuoming,Mei Yongfeng,Shen Bo,Zhang Rong,Wu Xinglong,Gu Shulin,Zheng Youdou. GaN Growth on Si Substrate Using Anodic Alumina as Buffer Layer[J]. High Technology Letters, 2002, 12(4): 52-54
Authors:Chen Peng  Jiang Ruolian  Wang Junzhuan  Zhao Zuoming  Mei Yongfeng  Shen Bo  Zhang Rong  Wu Xinglong  Gu Shulin  Zheng Youdou
Abstract:
Keywords:GaN   Anodic alumina   Buffer   UV photodetector  
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