新型单粒子效应测试系统控制程序的设计 |
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引用本文: | 王晓辉,苏弘,童腾,杨振雷,赵兴文,孔洁,杨海波.新型单粒子效应测试系统控制程序的设计[J].核电子学与探测技术,2014(11). |
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作者姓名: | 王晓辉 苏弘 童腾 杨振雷 赵兴文 孔洁 杨海波 |
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作者单位: | 中国科学院近代物理研究所;中国科学院大学; |
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基金项目: | 国家自然科学基金(11005135和11305233)资助 |
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摘 要: | 半导体集成电路(Integrated Circuit,IC)在辐射环境中,容易受到单粒子效应(Single Event Effect,SEE)的影响而发生故障。为了测试集成电路的SEE敏感性,验证SEE加固方法,设计了一套SEE测试系统。介绍了SEE测试系统控制程序的设计。控制程序采用引导式的流程管理,可扩展的待测器件信息管理,多线程数据采集和处理方法以及可靠的数据接收方法等多种设计方法,提高了程序的运行效率,保证了实验数据接收和处理的实时性和可靠性,良好地支撑了SEE测试系统的运行工作。
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关 键 词: | 单粒子效应 控制程序 多线程 运行效率 |
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