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低死时间单道脉冲幅度分析器的电路优化及实验验证
引用本文:赵修良,雷龙,程晓龙,周剑良,金晓峰,曹舟.低死时间单道脉冲幅度分析器的电路优化及实验验证[J].核电子学与探测技术,2014(11).
作者姓名:赵修良  雷龙  程晓龙  周剑良  金晓峰  曹舟
作者单位:南华大学核科学技术学院;
基金项目:国家军品配套项目(JPPT-115-5-882)
摘    要:低死时间单道脉冲幅度分析器电路在输入高频信号时产生自激现象,且电路本身还存在峰位检测输出信号延迟、逻辑芯片误触发的问题,导致单道无法正常工作。针对这些问题,在低死时间单道设计原理的基础上进行了电路优化,主要改善了有源微分电路,增加了延迟电路,以及单稳态成形电路,并进行了实验验证。实验结果表明,该优化电路不仅可行,而且能够在输入正弦波信号频率高达2.2MHz时正常稳定工作。

关 键 词:低死时间  单道脉冲幅度分析器  峰位检测  电路优化
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