低死时间单道脉冲幅度分析器的电路优化及实验验证 |
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引用本文: | 赵修良,雷龙,程晓龙,周剑良,金晓峰,曹舟.低死时间单道脉冲幅度分析器的电路优化及实验验证[J].核电子学与探测技术,2014(11). |
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作者姓名: | 赵修良 雷龙 程晓龙 周剑良 金晓峰 曹舟 |
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作者单位: | 南华大学核科学技术学院; |
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基金项目: | 国家军品配套项目(JPPT-115-5-882) |
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摘 要: | 低死时间单道脉冲幅度分析器电路在输入高频信号时产生自激现象,且电路本身还存在峰位检测输出信号延迟、逻辑芯片误触发的问题,导致单道无法正常工作。针对这些问题,在低死时间单道设计原理的基础上进行了电路优化,主要改善了有源微分电路,增加了延迟电路,以及单稳态成形电路,并进行了实验验证。实验结果表明,该优化电路不仅可行,而且能够在输入正弦波信号频率高达2.2MHz时正常稳定工作。
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关 键 词: | 低死时间 单道脉冲幅度分析器 峰位检测 电路优化 |
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