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基于复色共焦的透明材料厚度测量系统研究
引用本文:张宁,徐熙平,吴嘉辉,刘宇龙,李磊.基于复色共焦的透明材料厚度测量系统研究[J].长春理工大学学报,2013(5).
作者姓名:张宁  徐熙平  吴嘉辉  刘宇龙  李磊
作者单位:长春理工大学 光电工程学院,长春,130022;长春理工大学 光电工程学院,长春,130022;长春理工大学 光电工程学院,长春,130022;长春理工大学 光电工程学院,长春,130022;长春理工大学 光电工程学院,长春,130022
基金项目:吉林省科技发展计划项目
摘    要:研究了基于复色共焦技术的透明材料厚度测量系统。对透明材料厚度复色共焦测量的原理进行了分析,建立了厚度测量模型,设计了实施方案,完成了各分系统的设计与调试。在实验样机平台上进行了一系列数据的测量。结果表明,所设计的复色共焦透明材料厚度检测系统的测量范围在1~20mm以内,精度在±0.005mm,测量速度在每秒2000次以上,实验表明该系统满足设计要求,可以实现透明材料快速在线高精度的检测。

关 键 词:复色共焦技术  透明材料  厚度检测  线阵CCD

Research on the Measurement System of Transparent Material’s Thickness Based on Polychromatic Confocal Technology
ZHANG Ning , XU Xiping , WU Jiahui , LIU Yulong , LI Lei.Research on the Measurement System of Transparent Material’s Thickness Based on Polychromatic Confocal Technology[J].Journal of Changchun University of Science and Technology,2013(5).
Authors:ZHANG Ning  XU Xiping  WU Jiahui  LIU Yulong  LI Lei
Abstract:
Keywords:polychromatic confocal technology  transparent material  thickness measurement  linear CCD
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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