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TFT-AMLCD绝缘层a-SiNx∶H的制备
引用本文:钱祥忠,杨开愚,陈旋.TFT-AMLCD绝缘层a-SiNx∶H的制备[J].半导体光电,2002,23(2):125-127.
作者姓名:钱祥忠  杨开愚  陈旋
作者单位:1. 电子科技大学,光电子技术系,四川,成都,610054;淮南工业学院,数理系,安徽,淮南,232001;2. 电子科技大学,光电子技术系,四川,成都,610054
基金项目:安徽省自然科学基金;99JL0191;
摘    要:用等离子体化学气相沉积法(PECVD)在玻璃基板上淀积了厚度约1μm的非晶氮化硅(a-SiNx∶H)薄膜,在最佳工艺下得到薄膜的性能参数,折射率为1.8左右,光吸收系数为1.2×102~2×102cm-1,相对介电常数为7~8.4,电荷面密度为2.5×1012~3.1×1012cm-2.这种薄膜比较适合于用作薄膜晶体管-有源矩阵液晶显示器(TFT-AMLCD)的栅绝缘层.

关 键 词:PECVD  非晶氮化硅薄膜  绝缘层
文章编号:1001-5868(2002)02-0125-03
修稿时间:2001年6月15日

Fabrication of a-SiNx∶H Insulator in TFT-AMLCD
QIAN Xiang-zhong ,YANG Kai-yu ,CHENG Xuan.Fabrication of a-SiNx∶H Insulator in TFT-AMLCD[J].Semiconductor Optoelectronics,2002,23(2):125-127.
Authors:QIAN Xiang-zhong    YANG Kai-yu  CHENG Xuan
Affiliation:QIAN Xiang-zhong 1,2,YANG Kai-yu 1,CHENG Xuan 1
Abstract:
Keywords:
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