首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

深入分析S.M.A.R.T技术
引用本文:陈清之.深入分析S.M.A.R.T技术[J].微型计算机,2004(22):114-118.
作者姓名:陈清之
摘    要:读者和用户对硬盘数据存储可靠性的关注逐渐升温,由此在本刊论坛上引发了一场关于S.M.A.R.T技术的激烈讨论。为让更多读者深入了解这项已为我们服务了长达9年的技术,我们仔细筛选出具有针对性的问题,并在希捷硬盘工程师的大力协助下,将一直工作于系统后台的S.M.A.R.T技术提到前台,旨在深入,详细地分析关于它的方方面面。

关 键 词:数据存储  硬盘  可靠性  S.M.A.R.T技术
本文献已被 维普 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号