| 基于谐振频率测量的SIMpass卡质量检测技术研究 |
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| 引用本文： | 吴宁胜,朱荔,蒋志强. 基于谐振频率测量的SIMpass卡质量检测技术研究[J]. 电子技术, 2015, 0(6) |
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| 作者姓名： | 吴宁胜 朱荔 蒋志强 |
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| 作者单位： | 1. 浙江商业职业技术学院,浙江杭州,310053
2. 浙江机电职业技术学院,浙江杭州,310053 |
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| 摘 要： | SIMpass卡融合了射频RFID卡技术和SIM卡技术,在手机支付领域应用非常广泛.为了保证产品质量,在SIMpass卡生产和应用环节都需要进行批量筛选与测试.介绍了SIMpass卡原理及测试依据,提出了基于谐振频率测量进行质量检测的方法,并给出了详细的原理框图与软硬件设计方案.测试结果表明,检测方法可行,且易于低成本实现.
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| 关 键 词： | SIMpass卡 质量检测 谐振频率测量 DDS |
The Study of Quality Testing Technique for SIMpass Card Based on Frequency Deviation |
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| Wu Ningsheng,Zhu Li,Jiang Zhiqiang. The Study of Quality Testing Technique for SIMpass Card Based on Frequency Deviation[J]. Electronic Technology, 2015, 0(6) |
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| Authors: | Wu Ningsheng Zhu Li Jiang Zhiqiang |
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