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| 介绍一种组件快速自动分选仪的取样电路和比较电路 | |
| 引用本文： | 杨治湘.介绍一种组件快速自动分选仪的取样电路和比较电路[J].电测与仪表,1982(10). |
| 作者姓名： | 杨治湘 |
| 摘 要： | 组件生产出来,不管是生产厂家或者使用单位,都要经过严格的测试筛选,剔除不合格产品,并按组件质量的优劣进行分类,以满足不同使用条件的要求,从而避免组装出来的电子设备,不会因组件的静态、动态参数不合格,而影响其工作的稳定性和可靠性。为此,相继出现了多种类型的组件参数测试仪。例如指针式测试仪、半自动及自动分选仪、以及采用计算机或微处理器配以数据采集装置的全自动组件参数测试仪等等。指针式测试仪,结构简单、使用维修方便,但测试速度太低,况且连续测试,表头指针摆动很大,肉眼观测容易造成读数差错;虽然用计算机控制测试组件,提高了自动化水平,解决了测试速度问题,但若在一般中、小规模组件测试中使用,又感到设 |
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