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可测定电容器和半导体开关漏电电流的简单夹具
引用本文:Marián,tofka. 可测定电容器和半导体开关漏电电流的简单夹具[J]. 电子设计技术, 2007, 14(9): 102-102
作者姓名:Marián  tofka
作者单位:Slovak University of Technology Bratislava,Slovakia
摘    要:图1a中的电路由一个电压跟随器IC1,和参考电压源IC2构成.IC1是Analog Devices的AD8661运算放大器,其输出偏置电流不超过1pA,其典型输入偏置电流为0.3pA(参考文献1).IC2为Ana-log Devices的ADR391精密电压基准(参考文献2).制造商将此运算放大器的输入偏置电压调整到不超过100μV,典型值为30μV.这些特性使这种放大器适合用于观测各种类型的电容器自放电.固体钽电容和采用高质量塑料电介质电容的漏电电流远远超过了电压跟随器IC1的输入偏置电流.

关 键 词:电容器  半导体开关  漏电电流  Devices  Analog  运算放大器  夹具  测定

Simple fixture determines leakage of capacitors and semiconductor switches
Marián tofka. Simple fixture determines leakage of capacitors and semiconductor switches[J]. EDN China, 2007, 14(9): 102-102
Authors:Marián tofka
Affiliation:Slovak University of Technology, Bratislava, Slovakia
Abstract:
Keywords:
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