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| 电子束对大麦的诱变效应研究Ⅰ：对M1和M2的效应 | |
| 作者姓名： | 芮静宜 黄培忠 |
| 摘 要： | 采用１００－３００Ｇｙ辐照处理１３个大麦品种（系）的风干种子，Ｍ１代产生明显的生物学辐射损伤，表现在苗的高度降低，第一叶片长度和根的长度变短，植物存活率和结实率下降，电子束诱变的适宜剂量一般为１００－２００Ｇｙ，在此剂量范围内，Ｍ２代突变频率为０．２７６％－３．８４％，除出现多种叶绿素缺陷突变外，还出现植株生生匀性、株高、叶型、穗长、芒型、早熟性及茎叶蜡质减少等形态或生理性状突变，表现电子束对大麦 |
| 关 键 词： | 电子束 辐照育种 大麦 诱变效应 |
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