| 逐次逼近型模数转换器中的失配校准技术 |
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| 引用本文： | 王沛,龙善丽,吴建辉. 逐次逼近型模数转换器中的失配校准技术[J]. 半导体学报, 2007, 28(9): 1369-1374 |
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| 作者姓名： | 王沛 龙善丽 吴建辉 |
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| 作者单位： | 东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心,南京,210096;东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心,南京,210096;东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心,南京,210096 |
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| 摘 要： | 设计了一种用于逐次逼近型模数转换器中的比较器失调和电容失配自校准电路.通过增加校准周期,该电容自校准结构即可与原电路并行工作,实现高精度与低功耗.校准精度可达14bit.采用该电路设计了一个用于逐次逼近型结构的10bit 3Msps模数转换器单元,该芯片在SMIC 0.18μm 1.8V工艺上实现,总的芯片面积为0.25mm2.芯片实测,在采样频率为1.8MHz,输入320kHz正弦波时,信号噪声失真比为55.9068dB,无杂散动态范围为64.5767dB,总谐波失真为-74.8889dB,功耗为3.1mW.
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| 关 键 词： | 模数转换器 逐次逼近 自校准技术 |
| 文章编号： | 0253-4177（2007）09-1369-06 |
| 收稿时间： | 2007-02-02 |
| 修稿时间： | 2007-05-12 |
Mismatch Calibration Techniques in Successive Approximation Analog-to-Digital Converters |
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| Wang Pei,Long Shanli and Wu Jianhui. Mismatch Calibration Techniques in Successive Approximation Analog-to-Digital Converters[J]. Chinese Journal of Semiconductors, 2007, 28(9): 1369-1374 |
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| Authors: | Wang Pei Long Shanli Wu Jianhui |
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| Affiliation: | National ASIC System Engineering Center,Southeast University,Nanjing 210096,China;National ASIC System Engineering Center,Southeast University,Nanjing 210096,China;National ASIC System Engineering Center,Southeast University,Nanjing 210096,China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | analog-to-digital converter successive approximation self-calibration techniques |
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