钌系厚膜电阻器阻值受烧结温度影响机理的探讨 |
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引用本文: | 陈章其.钌系厚膜电阻器阻值受烧结温度影响机理的探讨[J].电子器件,1995,18(4):239-248. |
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作者姓名: | 陈章其 |
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作者单位: | 东南大学电子工程系 |
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摘 要: | 本文介绍了钌系厚膜电阻器阻值受烧结温度影响机理的研究。用AFM、SEM和AES分析了经不同峰值温度烧成的厚膜电阻体、电阻体与陶瓷衬底和电阻体与电极界面的结构和成份。研究表明,不同峰值温度烧成的厚膜电阻器,由于微观结构的不同,其阻值存在着较大的差异。
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关 键 词: | 钌系厚膜电阻 阻值 烧结 温度 |
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