| 掠入射荧光XAFS研究Pt超薄膜的局域结构 |
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| 引用本文： | 谢治,谢亚宁,刘涛,胡天斗,闫文盛,韦世强. 掠入射荧光XAFS研究Pt超薄膜的局域结构[J]. 核技术, 2004, 27(2): 87-90 |
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| 作者姓名： | 谢治 谢亚宁 刘涛 胡天斗 闫文盛 韦世强 |
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| 作者单位： | 中国科学技术大学国家同步辐射实验室,合肥,230029;中国科学院高能物理研究所,北京,100039 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金(10174068)资助 |
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| 摘 要： | 利用荧光X射线吸收精细结构(XAFS)技术研究了厚度为3-105nm范围的分子束外延生长的Pt金属薄膜的局域结构。结果表明，30nm和105nm Pt薄膜的XAFS结果与多晶Pt箔的相似，在径向结构函数图中的2．6l、3．80、4．63、5．43A处出现第一、二、三和四配位壳层的配位峰，保持着Pt金属的面心立方结构特征。30nm Pt薄膜样品的结构参数：配位数N=11．9，键长R=2．77A，无序度σ^2=0．0055A^2。3nm和10nm Pt超薄膜的径向结构函数曲线中的第一配位峰形状与105nm Pt厚膜的相似，但强度明显降低，其结构参数分别为：N=10．1，R=2．78A^2,σ^2=0．0077A^2；N=11.3，R=2．77A,σ^2=0．0061A^2；同时其高壳层的配位峰近于消失，说明3nm和10nm Pt超薄膜的中程有序结构遭到较大影响，无序度明显增加。在350-800℃温度范围内生长的105nm Pt薄膜，其局域结构近似于Pt金属晶体。
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| 关 键 词： | 荧光X射线吸收精细结构 Pt超薄膜 掠入射 |
Local structures of Pt thin films studied by grazing incidence fluorescence XAFS |
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| XIE Zhi XIE Yaning LIU Tao HU Tiandou YAN Wensheng WEI Shiqiang. Local structures of Pt thin films studied by grazing incidence fluorescence XAFS[J]. Nuclear Techniques, 2004, 27(2): 87-90 |
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| Authors: | XIE Zhi XIE Yaning LIU Tao HU Tiandou YAN Wensheng WEI Shiqiang |
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| Affiliation: | XIE Zhi 1 XIE Yaning 2 LIU Tao 2 HU Tiandou 2 YAN Wensheng 1 WEI Shiqiang 1 1 |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Fluorescence XAFS Pt thin film Grazing incidence |
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